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工業技術研究院

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深度學習瑕疵檢測技術

技術簡介

多分支出口之分類網絡...(詳如圖說)
多分支出口之分類網絡架構。

自主研發之物件分類、偵測、分割等深度學習技術,已針對工業應用最佳化,並有多項落地應用案例。

特色與創新

自主研發之多分支出口之分類網絡架構、加入多解析度且均衡之分支架構之偵測網路架構,以及基於幾何轉換之推論融合擴增分割技術,在工業應用中具有高的準確率及速度,以滿足業界落地需求。

  • 於偵測網路模型後端,加入多解析度且均衡之分支架構強化特徵學習,並融合多解析度偵測結果以提升大中小瑕疵之檢測能力。
  • 基於幾何轉換之推論融合擴增技術,融合多角度之分割結果,在推論階段進一步提升瑕疵分割之準確率。

應用與效益

技術已應用於PCB、PCBA、半導體、石化業場域監控等應用場域,可提升29%瑕疵檢測效能。

相關連結:【可移轉技術】深度學習瑕疵檢測技術。
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