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工業技術研究院

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109年度工研院量測技術發展中心研發成果公告

壹、研發成果項目:

一、PV封裝材料電致衰減快篩技術。
二、高階半導體長波長XRR膜厚檢測技術。
三、奈米粒子分析暨標準技術。
四、儲能系統標準暨檢測技術建置。
五、醫療影像自動量測分析技術。
六、智慧型動態目標物追蹤與辨識技術。
七、擴建交流電功率原級系統。
八、非接觸式單/雙旋轉軸幾何誤差線上量測技術。
九、行動式太陽光電設備檢測服務平台。
十、其他(請詳參工研院官網)。

109年度工研院量測技術發展中心研發成果項目公告(PDF檔)