工研院數位向量測試模組整合FPGA與高速介面，可進行大量測試資料處理與數位訊號收發，支援工業自動化測試設備應用。
技術簡介
採用FPGA（測試向量控制與處理）＋ Pin Driver （類比晶片）的架構，提供PCI Express／PXI Express介面之數位向量收發測試模組。
應用與效益
此技術可廣泛應用於其他工業自動化模組的開發與設計，模組透過高速串列通訊（PCI Express）搭配DDR3／4記憶體可提供大量資料的處理、存取，配合模組前端使用類比晶片電路設計，提供不同需求與應用，例如資料取樣、數位化儀、示波器、電源量測、電表、波形產生器應用，提供高性價比國產化儀器設備。
數位向量儀由類比前端、FPGA數位處理、高速儀器介面與軟體控制組成，可依不同測試需求彈性整合與擴充。