工業技術研究院

技術簡介

廢棄物樣品同時進行XRF檢測及TCLP檢測，以建立XRF與TCLP檢測結果之統計關係，後續可藉由XRF檢測結果快速判定廢棄物有害特性，輔助篩選進行TCLP檢測之樣品。此外，結合三元相圖以鑑識污染來源為土壤污染行為或是廢棄物棄置行為。

Abstract

Waste samples were subjected to both XRF and TCLP testing to establish a statistical relationship between the XRF and TCLP results. This allows for the rapid determination of the hazardous characteristics of the waste using XRF results, aiding in the selection of samples for TCLP testing. Furthermore, ternary phase diagrams were used to identify whether the pollution source was soil contamination or waste disposal.

技術規格

XRF檢測數據與TCLP檢測數據之污染濃度分佈對應統計分析，計算XRF測值在90％信賴區間，其對應之TCLP測值上限值低於「有害事業廢棄物認定標準」TCLP管制值之1/2，判定為一般事業廢棄物之XRF測值參考值；其對應之TCLP測值下限值大於「有害事業廢棄物認定標準」TCLP管制值，判定為有害事業廢棄物之XRF測值參考值。

Technical Specification

Statistical analysis of the pollution concentration distribution between XRF and TCLP detection data shows that if the XRF value is within the 90％ confidence interval and its corresponding upper limit of TCLP value is lower than half of the TCLP control value, it is determined to be the XRF reference value for general industrial waste; if its corresponding lower limit of TCLP value is higher than the TCLP control value, it is determined to be the XRF reference value for hazardous industrial waste.

技術特色

1.XRF快篩輔助有害特性判定技術已在高雄、臺南、彰化、新竹…等多個廢棄物棄置場址實場驗證。以高雄某場址清理實例驗證，可將每1樣品代表100公噸廢棄物，降至約11公噸/件樣品，可提升約10倍的樣品代表性，避免廢棄物有害性誤判。 2.XRF輔助污染來源鑑識技術已在高雄、臺南、新竹…等3個廢棄物棄置場址實場驗證。可鑑識是否為土壤污染場址或廢棄物棄置場址、是否為棄置污泥廢棄物，前述鑑識結果可以輔助後續廢棄物篩選分類工作。

應用範圍

土壤污染場址或廢棄物棄置場址之污染調查、來源鑑識、廢棄物篩選分類。

接受技術者具備基礎建議（設備）

環境工程顧問、環境專業營造業、清除處理及再利用業、環境檢驗業

接受技術者具備基礎建議（專業）

環境工程顧問、環境專業營造業、清除處理及再利用業、環境檢驗業

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