1 others 一般資料
跳到主要內容區塊 跳到 Cookie 設定

工業技術研究院

:::

機械工業雜誌

511期2025年10月高精密量測技術專輯

出版日期:2025/10/01

正方形 Icon 高精密量測技術專輯

X光電腦斷層掃描技術之實驗驗證與探討

陳柏宇、楊富程、劉定