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工業技術研究院

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光電半導體量測實驗室

成立於1994年,是國內第一個通過中華民國實驗室認證體系(CNLA)的LED量測實驗室,致力於光電半導體材料和元件特性之分析研究與測試,並取得美國國家志願性實驗室認證體系(NVLAP)認可,提供固態照明產品之測試服務。

1.65公尺半球式積分球
1.65公尺半球式積分球
Type C 配光曲線儀
Type C 配光曲線儀。

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