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工業技術研究院

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113年度工研院量測技術發展中心研發成果公告

一、科技專案成果

工研院量測技術發展中心執行科技專案成果如下,歡迎合作詳細請洽詢葉經理(+886-3-5743751)。

序號

計畫名稱

技術名稱

成果年度

1

國家度量衡標準運作與發展計畫

直流電力量測技術

113

2

國家度量衡標準運作與發展計畫

製程微污染之奈米粒子有機成分分析技術

113

3

任意形態與虛實融合顯示系統開發計畫

雷射掃描晶圓表面粒徑量測系統

113

4

半導體產業低碳製造技術

SAXRL 被動式基材螢光薄膜膜厚量測技術

113

5

半導體產業低碳製造技術

複合式智能光學檢測設備技術

113

6

工研院創新前瞻技術研究計畫

生成式AI應用於森林碳匯調查

113

7

工研院創新前瞻技術研究計畫

力量感測元件

113

8

工研院創新前瞻技術研究計畫

薄板內層缺陷2.5D檢測技術

112

9

工研院創新前瞻技術研究計畫

追蹤式雷射干涉儀空間誤差量測與機構鍊模型誤差分析技術

112

10

工研院創新前瞻技術研究計畫

溫室氣體排放量化之數位查證技術

112

11

工研院創新前瞻技術研究計畫

高動態範圍快速色偏量測技術

111

12

工研院創新前瞻技術研究計畫

micro-LED微光量測技術

111

13

工研院環境建構總計畫

X光閃爍體解析度驗證技術

111