技術簡介
大氣電漿束拋光技術,透過能量束縮束設計及介電層屏蔽放電設計,在RF低功率驅動下,實現低工作溫度(<100 ℃)及高化學反應基密度的微區修整能力,可對多樣化工件進行非接觸高精度抛光加工(PV< /10)
Abstract
Atmospheric plasma beam polishing technology, implementing the energy beam reduction design and dielectric layer shielding discharge design under RF low power drive, achieves micro-area trimming capabilities at low working temperature (< 100 degree C) and high chemical reaction base density. This technology capable of non-contact high-precision polishing (PV< 1/10 wave) of a variety of workpieces.
技術規格
技術規格(中文) 電漿源驅動: RF 13.56 MHz, 30-90 W、單點蝕刻尺寸: 直徑1-2 mm、單點蝕刻率: 30-120 nm/cycle、高精度抛光: PV< /10
Technical Specification
Plasma Source Driving: RF 13.56 MHz, 30-90 W
Single Point Etching Dimension: Diameter of 1-2 mm
Single Point Etching Rate: 30-120 nm/cycle
High Precision Polish: PV< /10
技術特色
本技術可於常壓下實現奈米級光學鏡面加工修整。透過無應力加工和局部材料精準移除,實現非球面或自由曲面鏡片的高精度加工,使具高面型精度(PV<λ/10)和奈米表面品質(Ra< 1 nm)加工能力,適用於高階光學元件的製造
應用範圍
半導體高階光學鏡片、X-Ray光學元件、大型太空鏡片
接受技術者具備基礎建議(設備)
氣體供應管路、恆溫水冷設備、抽氣設備
接受技術者具備基礎建議(專業)
具光學與機械背景之人員
聯絡資訊
聯絡人:翁志強 半導體設備技術組
電話:+886-3-5918795 或 Email:PeterWeng@itri.org.tw
客服專線:+886-800-45-8899
傳真:無