工業技術研究院

技術簡介

一種X光影像感測器之感測膜包括多層的膠體鹵化鈣鈦礦奈米晶體，其中不同層的膠體鹵化鈣鈦礦奈米晶體具有不同的晶體尺寸。一種X光影像感測器之感測膜的製造方法，包括調配多個膠體溶液，然後噴塗膠體溶液，以形成多層的膠體鹵化鈣鈦礦奈米晶體。那些膠體溶液各自包括不同晶體尺寸的鹵化鈣鈦礦奈米晶體。

Abstract

A sensing film of an X-ray image sensor includes a multilayer colloidal halide perovskite nanocrystal, wherein different layers of the colloidal halide perovskite nanocrystal have different crystal sizes. A method for manufacturing a sensing film of an X-ray image sensor includes preparing several colloidal solutions and then spraying the colloidal solutions to form a multilayer colloidal halide perovskite nanocrystal. Each of those colloidal solutions includes halide perovskite nanocrystals of different crystal sizes.

技術規格

鈣鈦礦奈米晶體尺寸：1.5-10.9 nm。 鈣鈦礦螢光發射波長：513-533 nm。 鈣鈦礦螢光生命期：10.12-43.06 ns。 鈣鈦礦閃爍層膜厚：1.5-22.5 µm。 堆疊層數：2-3 層。 鈣鈦礦堆疊單層膜厚：7.5 µm。 X光感測法：間接式。 X光光管操作電壓範圍：20-100 kVp。

Technical Specification

Perovskite nanocrystal size：1.5–10.9 nm. Perovskite photoluminescence emission wavelength：513–533 nm. Perovskite photoluminescence lifetime：10.12–43.06 ns. Perovskite scintillator film thickness：1.5–22.5 µm. Perovskite single-layer film thickness：7.5 µm. X-ray sensing method：Indirect. X-ray tube operating voltage range：20–100 kVp.

技術特色

根據光感測器響應波長調控螢光發射波長，並可延伸至彩色X光影像感測應用。

應用範圍

高能輻射感測

接受技術者具備基礎建議（設備）

化學合成設備、噴塗印刷設備。

接受技術者具備基礎建議（專業）

材料、化學、化工、光電等相關技術人員。

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