技術簡介
開發可適用於堆疊式交互陣列架構的 RRAM元件(X-point RRAM, 1S1R device) ,以應用在高密度儲存式記憶體領域。
Abstract
none
技術規格
交互陣列結構開發
雙向選擇器開發
電性量測技術開發
I(V)/I(V/2) ≧100,I≦100uA,
Cell size≦4F^2,Half pitch ≦0.18um
Technical Specification
none
技術特色
本提案之標的是電阻式記憶體技術,電阻式記憶體具備操作電壓低、快速啟動與讀取、結構簡單化、可多位元記憶、耐久性佳、記憶元件面積縮小及非破壞性讀取等優勢,是目前唯一能與具備低成本競爭力的快閃記憶體(Flash)對抗的非揮發性記憶體。因此,雖然電阻式記憶體離商品化還有一段距離,但是三星、松下、…等國際大廠已積極進行研發,紛紛推出雛形產品,由此可見電阻式記憶體技術商品化之後,將深具市場潛力及競爭性。
應用範圍
IDM或記憶體製造廠商
接受技術者具備基礎建議(設備)
Lithography、Etching、PECVD、PVD、ECD、CMP
等
接受技術者具備基礎建議(專業)
須具半導體製造能力,或相關應用之設計能力
聯絡資訊
聯絡人:張順賢 奈米電子技術組
電話:+886-3-5913917 或 Email:shchang@itri.org.tw
客服專線:+886-800-45-8899
傳真:+886-3-5917690