工業技術研究院

技術簡介

針對工業視覺在檢測、定位應用等進行核心技術、平台與系統整合開發

Abstract

The platform focuses on industry vision applications, includeing appearance inspection, vision guided robotics

技術規格

‧檢測物：3C、3K等產業成品或零組件，例如手機蓋瑕疵，如缺件、錯件、混料、極性、色彩檢測及瑕疵檢測等 ‧檢測速率：0.5 秒/物件25個內(手機蓋) ‧檢測重現性：0.2 mm，3 sec/pcs(後視鏡尺寸線上量測)

Technical Specification

‧ In-line defect inspection: 0.5 sec / 25 pcs for mobile phone cover ‧ In-line size measurement: 0.2 mm (repeatability) for side-view mirror of car

技術特色

在3C、3K等產業之成品或零組件製造過程中，需以光學檢查設備(AOI)來確保生產之產品品質。本技術主要利用高速攝影機取像、高速圖樣比對技術與快速瑕疵檢測法則之視覺檢測模組，以達到3C、3K等產業線上之動態與高速AOI品質管制的需求；技術特色為動態、線上外觀瑕疵檢測及線上外觀尺寸量測。

應用範圍

3C零組件，如手機、平板電腦、記憶卡、耳機等 ‧3K製品取放、檢測、量測

接受技術者具備基礎建議（設備）

‧取像平台 ‧機器視覺元件 ‧示波器

接受技術者具備基礎建議（專業）

1.具電機、光學視覺及機構設計基礎 2.軟體撰寫 3.系統整合測試

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