技術簡介
具備即時多點量測之影像光譜儀技術，及光譜分析演算法分析物體表面反射光波長能量分布，由資料庫比對可以辨識分類或是得知組成。
Abstract
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技術規格
可多點(>100點)偵測光譜儀，Wavelength range：400-780 nm resolution 20nm，體積200x50x50 mm3
Technical Specification
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技術特色
具備即時多點量測之影像光譜儀技術，及光譜分析演算法分析物體表面反射光波長能量分布，由資料庫比對可以辨識分類或是得知組成。
應用範圍
可應用於食材辨識、可應用於食物加工廠之品質控管
接受技術者具備基礎建議（設備）
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接受技術者具備基礎建議（專業）
光學、光譜知識
聯絡資訊
聯絡人：林雁容 量測技術發展中心
電話：+886-3-5732287 或 Email：linyr@itri.org.tw
客服專線：+886-800-45-8899
傳真：none